扫描电镜（Scanning Electron Microscope, SEM）是一种高分辨率的显微镜，用于对物质表面形貌和微观结构进行观察和分析。与普通光学显微镜不同，扫描电镜使用的是电子束而不是光线来成像，可以显著提高观察物质的分辨率和深度。

扫描电镜主要用于以下几个方面：

物质表面形貌观察：扫描电镜可以通过对样品表面的扫描，获得样品表面的三维形貌信息。例如，对纳米材料、生物组织等进行表面形貌观察。

微观结构分析：扫描电镜可以对样品的微观结构进行高分辨率的观察和分析。例如，对材料的晶体结构、纤维结构等进行分析。

成分分析：扫描电镜可以配合能谱仪等分析设备，对样品的成分进行分析。例如，对金属、合金等材料进行成分分析。

界面观察：扫描电镜可以对界面形态进行观察，例如，对金属和陶瓷、金属和聚合物、细胞和外界环境等界面的形态和结构进行观察和分析。